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日本电测densoku便携式薄膜膜厚计QNIx系列介绍
日本电测densoku便携式薄膜膜厚计QNIx系列介绍
便携式膜厚仪，可轻松提高麻烦的膜厚测量的生产效率
QNIx系列产品允许您仅使用超轻型紧凑型仪器和探头即可测量薄膜厚度，而无需携带笨重的薄膜厚度计。
无线测量无需电缆。它有助于将测量数据传输到PC，也有助于防止测量过程中掉落事故。
QNIx系列功能
无需进行膜校准即可进行精确的膜厚度测量
出厂时输入了16点校准数据。这样就无需进行麻烦的薄膜打样工作，并且可以进行精确的薄膜厚度测量。
膜厚测量数据传输的新技术
在传统的测量仪器中，测量仪器通过电缆连接到个人计算机以传输测量数据。QNIx系列使用“无线加密gou”，只需将其插入USB端口即可进行传输。您可以更快，更轻松地浏览测量数据。
超轻便的无线测量仪
探头测得的数据被无线发送到主机。它降低了被电缆卡住，像传统产品一样妨碍或导致跌落事故的风险。此外，该探头重30克，非常轻巧，因此您无需携带笨重的仪器。
一种不易折断且不会在测量对象上留下痕迹的探针。
QNIx系列探头被增强塑料包围，耐用性提高了30％。即使发生极少数的故障，拆卸和维修也很容易，因此缩短了维修时间。此外，它配备有红宝石芯片，可以安全地进行测量，而不会损坏要测量的对象（样品）。
QNIx系列比较规格表
| QNIx 8500 | QNIx 4500/4200 | QNIx 7500 | QNIx Carcheck系统 | QNIx方便 | |
| 可测量的电影 | [F]黑色金属上的非磁性涂层 [N]黑色金属上的非导电涂层 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非导电涂层 | [FN]黑色金属和有色金属材料上的非磁性和非导电涂层 | [FN]铁/铝材料上的非磁性/非导电膜厚度 | ||
| 材料识别 | 黑色金属和有色金属的 自动识别和交换 | 黑色金属和有色金属的 自动识别和交换 | 用户的转换 | 黑色金属和有色金属的 自动识别和交换 | 铁/有色，自动识别模式转换 |
| 测量原理 | [F]磁通量（霍尔效应） [N]涡流 | ||||
| 测量范围 | 0至2,000μm （可选：5,000μm） | 0至3,000μm | 0至2,000μm （可选：5,000μm） | 0至5,000μm | 0〜500微米 |
| zui高 分辨率 | 0.1μm，1μm [M] 0.01μm | 1微米 | 0.1微米 | 0.1微米，1微米 | 5微米 |
| 配置格式 | 0点校正 用户校准：1 [M] 100 | 0点校正 | 0点校正 | 没有校准功能 | 没有校准功能 |
| 准确度 | ±（1微米+ 2％） ±3.5％ （2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％） | ±（2μm+ 3％） | ±（1微米+ 3％） | ±（1μm+ 2％） ±3.5％ （2mm以上） | ±（10微米+ 5％） |
| 测量速度 | 1,500ms （大约40次/分钟） [T] 920ms （大约65次/分钟） [R] 1,600ms （大约37次/分钟） | 600ms （约70次/分钟） | 1,300ms （约46次/分钟） | 1,500ms （约40次/分钟） | 600ms （约100次/分钟） |
便携式薄膜测厚仪的型号代码指南
[F]黑色金属材料的非磁性膜厚度测量
[N]有色金属材料的非导电膜厚度测量
[FN]用一根探针测量黑色金属和有色金属材料上的膜厚
[T]微型探针
[M]测量数据存储功能，数据传输到PC
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