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涡流法测量方式很适合太阳能电池材料相关-napson-EC-80
紧凑且易于操作的手动非接触式（涡流法）电阻测量仪
产品名称：EC-80
产品图片（可根据客户要求进行各种定制）
产品特点
- 一种简单的测量仪器，只需在探针之间插入样品即可进行测量
- 在电阻/薄层电阻测量模式之间轻松切换
- 使用JOG拨盘轻松设置测量条件
- *由于探头是固定的，因此您可以在购买前从几种类型的探头中选择一种。
测量规格
测量目标
半导体/太阳能电池材料相关（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
硅基外延，离子与
半导体相关的注入样品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*请与热博rb88联系）
测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
测量范围
[电阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[抗页电阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探头类型的总范围）
*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至0.05Ω-cm）
（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）
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