专用于薄膜厚度检测设备-在线薄膜测厚仪FT-A200R

模型：FT-A200 标准型/ FT-A200R 薄膜型
（FT-A100的后继型号）

带有高精度测量头和放大器单元的机器

* 1线性度是

　　显示是否可以与测量头的位移量成比例显示的比率。　　

位移量

　为±0.2％

/ 100μm±0.2μm

　　位移量/ 500μm±1μm

　　位移量/ 1000μm±2μm

　　（测量误差因位移量而异）

* 2根据被测物体的材质，测量范围可能会改变。

• 重复性/ 0.05μm

  （使用升降器重复上下触控笔）

• 测量分辨率/ 0.01μm

• 线性度/±0.2％*　1

  （它是测量头的精度）

日本富士fujiwork薄膜连续测厚仪FT-A200

• FT-A200测量范围/ 10μm至200μm * 2

  FT-A200R测量范围/ 3μm至100μm * 2

• 测量压力/ 0.3N（标准）可以改变测量压力

• 主机/放大器单元/测量头配置

• 输出/模拟和RS232C

• 尺寸/ 260（H）x 300（W）x 309（D）*主体

• 重量/约10公斤*主体

• 电源/ AC100-240V

• 选件/

  ・软件・数据记录器・更换笔

  ・ PC ・图表打印机