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电阻式膜厚仪在金属薄膜厚度检测上的运用
电阻式膜厚仪在金属薄膜厚度检测上的运用
可以在短时间内测量绝缘层（印刷电路板的铜箔、镀层等）上的金属膜，双面板和多层板不受背面或内层的影响。两种测量范围可选，可测量2-120μm的金属膜。
电阻膜厚仪RST-231的特点
在 0.7 秒内测量绝缘层上的金属薄膜
它可以在短时间内（0.7秒）以高精度测量绝缘层（印刷电路板的铜箔、镀层等）上的金属膜。
易于阅读的屏幕配置
使用个人计算机时，屏幕大、明亮且易于查看。
易于校准和测量
易于校准和测量。可以选择两种测量范围（2 至 24 μm、10 至 120 μm）。
各种数字立即可见
直方图、配置文件和 xR 图表在统计处理后总是立即可用。
异常值检测功能
如果您设置了薄膜厚度的上限和下限，您将收到异常值的通知。
简单的统计处理
可以为每个通道保存测量数据，以后可以为测量数据设置统计项目进行统计处理。
最多可注册 40 个频道
由于您最多可以注册 40 个频道，因此您可以通过根据用户名和部件号分别注册来管理频道。
电阻式膜厚仪RST-231规格
| 模型（主体） | RST-231型 |
|---|---|
| 测量原理 | 4探针电阻式 |
| 测量范围 | 2～24μm、10～120μm |
| 通道数 | 40 个频道 |
| 数据容量 | 100,000 条数据 |
| 展示 | 视电脑显示器屏幕而定 |
| 统计处理 | 最大值、最小值、平均值、标准偏差、直方图、上下限设置 |
| 电源供应 | AC100 ~ 240V, 50 / 60Hz 10VA (主机) |
| 尺寸 | 280 (W) x 230 (D) x 88 (H) 毫米（主体） |
| 配件 | 4 探针 KD-110 标准板 TCU-145 |
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