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日本nagano露点仪的类型和原理介绍
日本nagano露点仪的类型和原理介绍
电容
式铝基经过电解，在其表面形成多孔氧化铝层。许多气孔在氧化铝表面呈梳状规则分布，金沉积在该表面上。将氧化铝与这样配置为两极的铝基和金薄膜夹在中间的阻抗元件是在检测单元中使用的氧化膜传感器。
-镜面冷却型
温度传感器（PT100Ω）嵌入在镀铑铜的镜面部分，可以测量镜面温度。Pelche 元件与镜子背面紧密接触，可调节镜子温度。镜面上部有光源和受光元件，光源发出的光照射镜面并安装成反射光进入受光部。
测量气体通过传感器头以改变镜子的温度。如果先降低镜面温度，当镜面温度低于测量的气体露点时，镜面会出现结露。这种冷凝会改变从镜子反射的光量。当到达受光部的光量减少时，镜面温度会升高。当镜面温度升至测量气体露点以上时，露点消失，到达受光部的光量返回。通过连续进行该操作，最终会收敛到结露消失的平衡状态的温度。换言之，这是被测气体的露点温度。
- 五氧化二磷型
两根铂丝缠绕在一定长度的石英管表面。五氧化二磷以薄膜形式涂敷以覆盖这两条线的表面，这成为检测部分。检测器安装在允许一定量气体流动的气流外壳中。
将两根铂丝用作电极，并对其施加恒定电压。当含有水的气体通过检测器时，气体中的水被五氧化二磷剧烈吸附，将气体中所含的水全部电解。由于根据法拉第定律，电解电流与含水量之间的关系是成正比的，因此通过调节通过检测单元的气体流量，可以将含水量作为电解电流来掌握。例如，100 cc / m 对应于每 1 ppm 水 13.14 μA 的电流。
式铝基经过电解，在其表面形成多孔氧化铝层。许多气孔在氧化铝表面呈梳状规则分布，金沉积在该表面上。将氧化铝与这样配置为两极的铝基和金薄膜夹在中间的阻抗元件是在检测单元中使用的氧化膜传感器。
-镜面冷却型
温度传感器（PT100Ω）嵌入在镀铑铜的镜面部分，可以测量镜面温度。Pelche 元件与镜子背面紧密接触，可调节镜子温度。镜面上部有光源和受光元件，光源发出的光照射镜面并安装成反射光进入受光部。
测量气体通过传感器头以改变镜子的温度。如果先降低镜面温度，当镜面温度低于测量的气体露点时，镜面会出现结露。这种冷凝会改变从镜子反射的光量。当到达受光部的光量减少时，镜面温度会升高。当镜面温度升至测量气体露点以上时，露点消失，到达受光部的光量返回。通过连续进行该操作，最终会收敛到结露消失的平衡状态的温度。换言之，这是被测气体的露点温度。
- 五氧化二磷型
两根铂丝缠绕在一定长度的石英管表面。五氧化二磷以薄膜形式涂敷以覆盖这两条线的表面，这成为检测部分。检测器安装在允许一定量气体流动的气流外壳中。
将两根铂丝用作电极，并对其施加恒定电压。当含有水的气体通过检测器时，气体中的水被五氧化二磷剧烈吸附，将气体中所含的水全部电解。由于根据法拉第定律，电解电流与含水量之间的关系是成正比的，因此通过调节通过检测单元的气体流量，可以将含水量作为电解电流来掌握。例如，100 cc / m 对应于每 1 ppm 水 13.14 μA 的电流。
每种露点仪类型的标准规格列表
| 电容式 | 镜面冷却型 | 五氧化二磷法 | |
|---|---|---|---|
| 测量范围 | -100 至 + 20°C DP 标准 测量范围可在标准范围内改变 | -35℃DP～+侧环境温度 -55℃DPMAX（CL-60·20℃下） | 0.01-1000ppm -110--20℃ |
| 其他 | + 侧面特殊范围是可能的 | 高露点可通过隔热测量 | |
| 准确性 | ±2℃DP | ±0.5℃DP以下 | 读数 ± 5% 或 0.4ppm |
| 使用流量 | 1-5L/分钟 | 0.1-1L/分钟 | 0.1L/分钟 |
| 测量压力 | 大气压～1.0Mpa | 气压 | 0.25-7.0 巴 |
| 轰天猛将 | 基本没有 | 基本没有 | 传感器部件需要更换 |
- ND-TA
- ND-SD
- MIRRORCL
- CL-60
- ND-CH
- 五酸化リン式水分計
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