台式离线电容式测厚仪
适用于软薄膜和薄膜
模型 | TOF-C2 * TOF-C 的后续型号 |
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测量方法 | 非接触式/电容式 |
测量对象 | 薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜 |
测量原理 | 电容式 |
产品特点
高测量分辨率
由于是非接触型,因此非常适合接触型难以测量的薄膜。
即使表面状况粗糙,也可以进行测量。
基重测量
操作简单(具有自动介电常数设置功能)
产品规格
测量厚度 | ~ 500 微米 |
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测量长度 | 10 至 10000 毫米 |
测量间距 | 1 毫米 ~ |
最小显示值 | 0.01微米 |
电源电压 | AC100V 50 / 60Hz |
工作温度限制 | 5-40℃(测量时温度变化1℃以内) |
湿度 | 35-80%(无冷凝) |