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densoku电解式测厚仪的原理及特点
densoku电解式测厚仪的原理及特点
电解膜厚度测量原理
镀膜厚度是通过阳极电解法溶解镀膜来测量的，这是一种应用规则测量镀层厚度的方法 （阳极电解电路见图1）在镀膜结束时，由于测量部分被恒定电流溶解，膜金属消失，当基体金属出现时，阳极电压发生变化，并且检测到此电压变化以结束测量。（见图二）
电解膜测厚仪的特点
虽然是破坏型测量，但可以通过简单的测量来测量，也可以测量多层电镀。
可测量双镍、三镍各层膜厚及电位差
可以分别测量铜镀锡时形成的纯锡层和合金层的厚度。
可以测量 X 射线无法测量的厚多层镀层（最大 300 μm）
通过使用线测试仪，可以测量细线的电镀膜厚度。
使用示例
镀锡线（镀锡铜线）纯锡层厚度测量
汽车外饰件用Cr/Ni/Cu三层镀层测量，镀Ni用
双镍/三镍电位差测量与非破坏性薄膜测厚仪的测量结果进行交叉检查
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