off diagonal MO成像盒Φ75的原理分析

MO成像板Φ75一盒磁场观测光学系统！

为了使用 MO 成像板可视化磁场，需要准备光源、偏光器、分析仪和 USB 相机等。本产品将这些光学仪器紧凑地装入一个盒子中。
通过将电源和 USB 连接器连接到 PC，可以将 MO 成像板 Φ75 可视化的磁场图像导入 PC 并进行分析（需要单独的软件）。
必要的光学系统安装在一个紧凑的外壳中，便于在工厂或其他地点观察的设施之间移动。

磁光成像原理分析

首先，对磁光效果进行说明，接着对使用磁光成像板的磁场分布测定原理进行说明。透射中的磁光效应法拉第效应是当光在磁性材料中行进时，光的偏振面根据磁性体的磁化方向（从S极到N极的方向）的方向而旋转的现象。那个旋转角叫做法拉第旋转角。这个法拉第效果，通过在磁性体前后配置2张（偏振片和检光子），作为透过的光的强度的变化能测量。

如果磁性体的易磁化轴（容易磁化的方向）相对于磁性体表面为面内方向，且外部磁场的方向为垂直方向，则施加磁场为零时磁化朝向面内方向，但随着磁场变强，磁化朝向磁场的方向。法拉第旋转角与该磁化的垂直分量成正比，因此法拉第旋转角与相对于磁性体的垂直方向测量的磁化曲线形状相同。因此，如图2所示，法拉第旋转角和外部磁场在磁化方向朝向与外部磁场相同方向的饱和磁场以下成比例关系。

在使用图2面内磁化膜法拉第旋转角的磁场依赖性图1的设置的情况下，通过磁性体和检光子的光的强度I根据法拉第旋转角和偏振片的角度和检光子的角度。

中所述修改相应参数的值。如果将偏振器和检光子的角度差定为正交条件的90度，则光强会随着法拉第旋转而增加。但是，由于得到的光强度相对于旋转角的正负也会发生同样的变化，所以通常是从90度错开几度的角度，相对于正负的法拉第旋转角会产生明暗对比。这种方法，因为偏振器和检光子几乎为90度，所以被称为正交检光子法。这种方法的优点是可以通过简单的设置来测量，也可以用肉眼观察。但是，由于法拉第旋转角的大小与光强的关系不是比例关系，所以为了定量地求出磁场强度，需要使用某些磁场的校正方法。接下来，对使用磁光成像板的磁场分布测量原理进行说明。基本的测量方法如图3所示。在此，将棒磁铁作为测量试样。将磁光成像板放置在测量对象上。然后，通过偏振片等向磁光成像板照射直线偏振光。之后，通过另一片偏振片（检光子），观察磁光成像板，可以观察磁场分布。此时，如上面说明的那样，2张偏光板的角度偏离90度进行观察。

图4（a）、（b）是示意性表示没有测定对象物的情况和有的情况下的磁光层的磁化状态的图。没有测量对象物，也不存在磁场分布时，磁光层的磁化面向面内方向。另一方面，根据测量对象物产生磁场分布时，根据该磁场分布，磁光层的磁化方向旋转。因此，如图3所示，如果照射光进行观察，则由于法拉第效应，磁场的分布被观察为光的明暗。在反射配置中，由于法拉第效果的非相反性，如果没有光吸收，旋转角是往返部分的2倍。但是，实际上，由于磁光层的光吸收和表面的反射，不会达到2倍。图4（c）表示棒磁铁的测定例。可以看到S极和N极是明暗对比的。