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表面附着异物可视化技术分析
表面附着异物可视化技术分析
粒子可视化技术可用于以高灵敏度检测光滑表面上的粒子。此外，通过可视化颗粒成分的荧光，可以每天管理表面污染物和污渍。
使用散射光的方法
高灵敏度微粒可视化技术是一种捕捉运动微粒散射光的技术。同样的原理可用于高灵敏度检测表面异物和移动产品的微弱散射光。激光只能应用于光滑的产品，但例如，即使在薄膜中也可以通过可视化检测施加张力的位置。
使用散射光检测表面污染物
荧光结合使用
附着在表面的异物或污垢可能会返回来自其成分的荧光。为了使荧光颜色清晰，需要对照射光进行设计，但如果用特殊滤光片切断散射光，表面异物会很鲜艳，很容易看清。使用这种方法，只要光线到达表面，无论表面的光滑度如何，都可以进行可视化。“D Light"可以免费租借（约2天）。请借此机会尝试一下。
使用荧光识别异物和污垢
利用表面粒子可视化技术的最佳解决方案
“D Light"，一种可以更容易地看到表面异物和污渍的荧光色的工具
“D Scope"，即使是微弱的荧光也能捕捉到，分析微粒子的各种信息并将其转换为数据的工具
一种相对容易设置在您想要可视化的表面上的光源是“Parallel Eye F" 。
“Parallel Eye H"是可视化宽大光滑产品表面的最佳光源。
“Parallel Eye D"是可视化不平整表面和突出荧光的最佳光源。
具有粒子检测专用灵敏度和功能的超高感度相机是专用超高感度相机“Iscope" 。
用于在 PC 上进行实时图像处理和记录的图像处理包“ParticleEye"
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