产品资料
日本yamabun台式离线光谱干涉仪测厚仪TOF-S
产品名称: 日本yamabun台式离线光谱干涉仪测厚仪TOF-S
产品型号:
产品特点: 日本yamabun台式离线光谱干涉仪测厚仪TOF-S光学膜和透明涂层的理想选择型号托福测量方式非接触型/光谱干扰型测量目标电子和光学透明透明薄膜，多层薄膜测量原理光谱干扰类型
日本yamabun台式离线光谱干涉仪测厚仪TOF-S 的详细介绍
日本yamabun台式离线光谱干涉仪测厚仪TOF-S
产品特点
高测量重复性（±0.01μm或更小，取决于目标物体和测量条件）
不易受温度变化的影响
可以制造用于研究和检查的离线类型以及在制造过程中使用的在线类型
反射型可从胶片的一侧进行测量
可以仅测量透明涂层（取决于测量条件）
日本yamabun台式离线光谱干涉仪测厚仪TOF-S
产品规格
| 测量厚度 | 1至50μm（对于薄材料），10至150μm（对于厚材料） |
|---|---|
| 测量长度 | 50-5000毫米 |
| 测量间距 | 1毫米〜 |
| 小显示值 | 0.001微米 |
| 电源电压 | AC100伏50/60 Hz |
| 工作温度范围 | 5至45°C（测量期间温度变化在1°C以内） |
| 湿度 | 35-80％（无凝结） |
| 测量面积 | φ0.6毫米 |
| 测量间隙 | 约30毫米 |
金属板的理想选择TOF-M
产品特点
测量带状金属板的厚度变化
通过自动传输机制实现稳定的测量重复性
测量数据可以自动保存在PC上
产品规格
| 测量厚度 | 0.1-0.5毫米 |
|---|---|
| 测量长度 | 10-1800毫米 |
| 测量间距 | 0.1毫米〜 |
| 小显示值 | 0.1微米 |
| 测量压力 | 0.45±0.25 N以下 |
| 电源电压 | AC100V 50/60赫兹 |
| 工作温度范围 | 5-40℃ |
| 湿度 | 30-80％（无凝结） |
| 耗电量 | 50 VA（不包括PC） |
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