日本asey热工状况测量系统
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
主要用途
加热时的加热状态(加热量)存储在芯片中,取出并进行测定定量。
测量仪器``RITA''正在观察AI薄膜的[晶体状态]。
日本asey热工状况测量系统
热博rb88(中国)有限公司版权所有 地址:深圳市龙岗区龙岗街道新生社区新旺路和健云谷2栋B座1002