日本napson光伏非接触式PN判定装置

光伏非接触式PN判定装置

产品名称：PN-50α

产品图片（可根据客户要求进行各种定制）

产品特点

• 通过LED光脉冲照射可以立即判断
• 由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
• 还可以确定表面上有氧化膜的晶片

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）

测量尺寸

支持2英寸或更大的锭块

测量范围

可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm

产品特点

• 通过LED光脉冲照射可以立即判断
• 由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
• 还可以确定表面上有氧化膜的晶片

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）

测量尺寸

支持2英寸或更大的锭块

测量范围

可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm

产品特点

• 通过LED光脉冲照射可以立即判断
• 由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
• 还可以确定表面上有氧化膜的晶片

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）

测量尺寸

支持2英寸或更大的锭块

测量范围

可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm

产品特点

• 通过LED光脉冲照射可以立即判断
• 由于它是非接触式方法，因此不会损坏样品。
• 还可以确定表面上有氧化膜的晶片

测量规格

测量目标

与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）

测量尺寸

支持2英寸或更大的锭块

测量范围

可由PN确定的样品电阻范围：0.1至1,000Ω·cm

日本napson光伏非接触式PN判定装置