产品资料
日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计
产品名称: 日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计
产品型号: PVE-80
产品特点: 日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计由于是使用脉冲电压激励法作为测量原理的非接触电阻测量系统，因此可以在不损坏样品的情况下进行测量。
日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计 的详细介绍
日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计
节省空间的设计主体外壳，便携式可移动平台
通过PC（软件）进行简单的测量操作，数据存储和管理
测量显示单元可以根据应用（薄层电阻，电导率，电导率）进行更改
*本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法（篆隶号5386394）。
测量规格
测量目标
与新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）与
导电薄膜相关（金属，ITO等）
与化合物半导体相关（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查询）请给我）
测量尺寸
〜A4尺寸（W300 x D210mm）
测量范围
50μ〜1mΩ/平方
节省空间的设计主体外壳，便携式可移动平台
通过PC（软件）进行简单的测量操作，数据存储和管理
测量显示单元可以根据应用（薄层电阻，电导率，电导率）进行更改
*本产品使用由我公司与千叶大学联合开发的脉冲电压激励方法（篆隶号5386394）。
测量规格
测量目标
与新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）与
导电薄膜相关（金属，ITO等）
与化合物半导体相关（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*查询）请给我）
测量尺寸
〜A4尺寸（W300 x D210mm）
测量范围
50μ〜1mΩ/平方
日本napson非接触脉冲电压激励法超低电阻计
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