日本ae-mic阻抗测量仪
测量范围 | 测量范围 | 解析度 | 实测电流 | ESR精度 | Z精度 |
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100毫欧 | 0.00mΩ至109.99mΩ | 0.01毫欧 | 100毫安 | 读数的±0.5%内±10位±100μΩ | 读数的±1%内±10位±100μΩ |
1Ω | 0.0mΩ至1099.9mΩ | 0.1毫欧 | 10毫安 | 读数的±0.5%以内±10位数字 | 读数的±1%以内±10位数字 |
10Ω | 0.000Ω至10.999Ω | 1毫欧 | 1毫安 | ||
100Ω | 0.00Ω至109.99Ω | 10毫欧 | 0.1毫安 |
*上述精度是预热时间为30分钟或更长时间后准确进行调零的精度。
测量频率 | 100kHz±0.1%,正弦波形 |
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测量方式 | 5端子测量[可进行接触检查] |
测量时间 | [自由运行]快速:大约10次/秒慢速:2.5次/秒[标准设置] |
[外部启动] [ESR]大约(4.2 + N)x 2毫秒[N =快速:1〜99] /慢速:[4 +电源循环x 1〜9] x 2毫秒。 | |
(1毫秒。用于检查) | |
[外部启动] [Z]大约(3.5 + N)x 3毫秒[N =快速:1〜99] /慢速:[3.5 +电源循环x 1〜9] x 3毫秒。 | |
(1毫秒。用于检查) | |
比较器设定范围 | HI和LO均为0至9999 |
控制信号 | 测量开始信号:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始 |
保持信号:断开,“ H” [DC12V]:自由运行,“ L” [0V]:保持 | |
判断结果信号[LO / GO / HI]:集电极开路输出大40V,100mA | |
接触错误[CONT-E]: 集电极开路输出大40V,100mA | |
测量结束信号[EOC]:集电极开路输出大40V,100mA | |
周边环境 | 温度:5℃〜+ 50℃湿度:85%以下 |
需要电源 | AC85V-265V,50-60HZ,约30VA |
外形尺寸 | 333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起) |
重量 | 约4kg |
选项 | ・ RS-232C | * 只能 内置这些选项之一。 |
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・ GP-IB | ||
・打印机输出(Centronics) | ||
・打印机电缆 | ||
100kHz短端接(零欧姆标准电阻器) |
*规格如有变更,恕不另行通知。
日本ae-mic阻抗测量仪
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