日本densoku渦電流式膜厚計 DS-110

日本densoku渦電流式膜厚計 DS-110

渦電流式膜厚計 DS-110

水晶発振により高精度
短い測定時間で曲面・球面対での測定も可能

・測定値表示がデジタル式で読み取りやすい 
・スイッチを入れると同時に測定開始、測定時間も1秒以内 
・水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度 
・非破壊だから全数検査が可能 
・直読式だから換算不要

渦電流式膜厚計 DS-110 の特長

読み取りやすいデジタル式

測定値表示がデジタル式で読み取りやすいです。

すぐに測定が可能

スイッチを入れると同時に測定が可能。測定時間も1秒以内です。

高安定（±1％）高精度

水晶発振方式により、高安定（±1％）高精度。

全数検査が可能

非破壊ですので全数検査ができます。

換算の必要なし

直読式で換算の必要がありません。

多様な測定に対応

金属上の皮膜、めっき、塗装、樹脂等の測定ができます。（例：アルミ上の酸化膜、鉄上の亜鉛等のめっき、塗装）

1000データまで保存可能

1本の検査線で1000データが保存可能です。

非金属上の金属皮膜も測定

非金属上の金属皮膜（例　プラスチック上のめっき）の測定ができます。

標準で4種類、大70種類の膜厚測定が可能

スイッチを切り替えることで、4種類までの膜厚測定ができます。また、メーカで検査線を入れ替えることで、70種類以上の膜厚測定ができます。

曲面、球面体、パイプの内部でも測定可能

曲面、球面体でも測定可能です。また、パイプ等内面も測定できます（φ12.7mm以上）。

プリントアウト機能

測定データと統計処理値をプリントアウトできます。

測定原理

高周波電流を流したプローブ（測定子コイル）を金属に接近させると、金属表層部に渦電流が生じます。この渦電流は、高周波磁界の強さ、周波数、その金属の導電性、厚さ、形状等により影響を受け、浸透深さ及びその大きさが異なります。 そして渦電流は、プローブの高周波磁界を打ち消すように流れますので、プローブの高周波抵抗値が変化します。この高周波抵抗値の変化分を増幅し、カーブ補正を行って、デジタル値で表示します。このため膜厚値を直接数字で読み取ることができます。カーブ補正はマイクロコンピュータによる計算で行っています。このため高精度で、高安定です。

渦電流式膜厚計 DS-110 の仕様

（注）仕様は予告なく変更されることがあります。

渦電流式膜厚計 DS-110 のプローブ仕様