日本densoku電気抵抗式膜厚計 RST-231

日本densoku電気抵抗式膜厚計 RST-231

電気抵抗式膜厚計 RST-231

操作が簡単で短時間（0.7秒）
絶縁物上の金属皮膜を高精度に測定

・絶縁物上の金属皮膜を0.7秒で測定 
・パソコン使用で見やすい画面 
・較正や測定が簡単 
・ヒストグラム、プロファイルなどすぐに閲覧可能 
・異常値検知機能

電気抵抗式膜厚計 RST-231 の特長

絶縁物上の金属皮膜を0.7秒で測定

絶縁物上の金属皮膜（プリント基板の銅箔・めっきなど）を短時間（0.7秒）に高精度で測定します。

見やすい画面構成

パソコン使用で画面が大きく、明るく、見やすい画面構成です。

較正や測定が簡単

較正や測定が簡単。2種類の測定レンジが選択できます（2～24μm、10～120μm）。

各種図がすぐに見られる

統計処理後、ヒストグラム、プロファイル、x-R管理図がいつでもすぐに見られます。

異常値検知機能

膜厚の上下限を設定しておくと異常値に対して通知します。

探針1本ごとに交換に対応

プローブの探針を破損した場合、探針1本ごとに交換でき低価格での修理が可能です。

統計処理が容易

測定データをチャンネルごとに保存でき、測定データに対し後から統計項目を設定し統計処理を行なうことができます。

40チャンネルまで登録可能

40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や部品番号などにより別々の登録をしてチャンネルの管理ができます。

探針1本ごとに交換に対応

4探針プローブ（ケルビン式）を採用しており、両面基盤や多層基盤も裏面や内部層の影響を受けず高精度の測定ができます。

ヒストグラム

x-R管理図

統計量表示

測定原理

プローブには直線上に4本の金属ピン（探針）立っています。 この4本の探針を測定する絶縁物上の金属箔や金属めっき面に接触させます。外側の2本探針に一定の電流（I）を流し、電圧（V）を測定します。探針を接触させている金属箔や金属めっきの厚さ（T）は、一定の条件下では下記の式で計算できます。 T　=　K　×　I　÷　V ここではKは定数 従って、内側の2本の探針間の電圧を測定すれば、金属箔や金属めっきの厚さを測定できます。

電気抵抗式膜厚計 RST-231 の仕様・4探針プローブ仕様

（注）仕様は予告なく変更されることがあります。