日本DENSOKU电涡流膜厚度计D-20

日本DENSOKU电涡流膜厚度计D-20

小巧便携
薄膜厚度计，可以满足短时间测量的时代需求

·重量轻，结构紧凑，重量为2.0kg
·一旦开关打开，测量就开始，测量时间在1秒之内。
·晶体振荡法具有高稳定性（±1％）和高精度
·非破坏性，100％检查是可能的
·由于直接阅读，无需转换

涡流膜厚度计D-20的特点
轻巧紧凑

你可以携带它。

可立即测量

可以在开关打开的同时进行测量。测量时间也在1秒内。

高稳定性（±1％）高精度

通过晶体振荡方法具有高稳定性（±1％）和高精度。

可以100％检查

100％检查是可能的，因为它是非破坏性的。

无需转换

不需要直接转换。

兼容各种测量

可以在金属上测量薄膜，电镀，涂漆，树脂等（例如：在铝上镀氧化膜，在铁上镀锌等）。

成为的测量仪器

只需更换刻度盘，它就成了的测量仪器。

测量面积3m2以上

兼容3m2或更大的测量区域。

还测量非金属上的金属膜

可以测量非金属上的金属薄膜（例如塑料上的镀层）。

即使在曲面，球体和管道内也可以进行测量

即使对于弯曲和球形表面也可以进行测量。它还可以测量管道的内表面（φ12.7mm或更大）。

測定原理

当已经通过高频电流的探针（测量线圈）接近金属时，在金属表面层中产生涡电流。 该涡电流受到高频磁场的强度和频率，金属的导电性，厚度和形状的影响，并且穿透深度和尺寸变化。
涡电流流动以抵消探头的高频磁场，因此探头的高频电阻发生变化。 这种高频电阻的变化被放大并显示在仪表上。 通过这样做，可以从仪表的波动中读取膜厚度值。 薄膜厚度值和仪表跳动通常不成比例，因此使用直读刻度板直接读取薄膜厚度值。

日本DENSOKU涡流膜厚度计DS-110

晶体振荡精度高
可以在短的测量时间内测量曲面和球面

·测量值显示数字且易于阅读
·一旦开关打开，测量就开始，测量时间在1秒之内。
·晶体振荡法具有高稳定性（±1％）和高精度
·非破坏性，100％检查是可能的
·由于直接阅读，无需转换

涡流膜厚度计DS-110的特点
易于阅读数字

测量值显示是数字的，易于阅读。

可立即测量

可以在开关打开的同时进行测量。测量时间也在1秒内。

高稳定性（±1％）高精度

通过晶体振荡方法具有高稳定性（±1％）和高精度。

可以100％检查

100％检查是可能的，因为它是非破坏性的。

无需转换

不需要直接转换。

兼容各种测量

可以测量金属上的薄膜，电镀，涂层，树脂等。 （例如：在铝上镀锌，在铁上镀锌等）

多可保存1000个数据

可以使用一条检测线保存1000个数据。

还测量非金属上的金属膜

可以测量非金属上的金属薄膜（例如塑料上的镀层）。

可以测量4种标准和多70种薄膜厚度。

通过切换开关，可以测量多达4种类型的薄膜厚度。此外，通过更换制造商处的检查线，可以测量超过70种类型的膜厚度。

即使在曲面，球体和管道内也可以进行测量

即使对于弯曲和球形表面也可以进行测量。它还可以测量管道的内表面（φ12.7mm或更大）。

打印输出功能

打印出测量数据和统计处理值

測定原理

当已经通过高频电流的探针（测量线圈）接近金属时，在金属表面层中产生涡电流。 该涡电流受到高频磁场的强度和频率，金属的导电性，厚度和形状的影响，并且穿透深度和尺寸变化。
涡电流流动以抵消探头的高频磁场，因此探头的高频电阻发生变化。 高频电阻值的这种变化被放大，曲线校正，并显示为数字值。 因此，膜厚度值可以直接读取为数字。 通过微计算机计算执行曲线校正。 因此，它非常准确且高度稳定

日本DENSOKU涡流膜厚度计DMC-211

高速和可操作性
短时非破坏性测量是100％检测的理想选择

·1秒内无损测量，100％检测*
·使用个人计算机轻松校准和测量操作
·只需将探头放在物体上并释放它，即可自动捕获测量值
-70特性曲线（校准曲线）作为标准
·为每个渠道注册公司名称，部件号和批号。

涡流膜厚度计DMC-211的特点
数字显示测量值，读数

几乎所有金属薄膜（铝上的氧化膜，铁上的锌/铬镀层等），非金属上的大多数金属薄膜（塑料上的电镀等）在短时间内（1秒内）无损测量，非常适合100％检测。

使用PC轻松操作

通过使用个人计算机进行校准和测量等简单操作。可以选择各种测量模式，便于测量螺钉头，线材和压铸产品等小零件。

配备[自动导入]模式

在[自动采集]模式下，只需将探头放在待测物体上并松开即可自动获取测量值。

丰富的特征曲线记忆（校准曲线）

70个自动选择特性曲线（校准曲线）作为标准存储。对于特殊材料，如果有标准板，则可以创建并输入新的特征曲线（校准曲线）。

公司信息渠道注册功能

可以为每个渠道注册公司名称，部件号和批号。
总频道：40个频道

配备统计处理功能

可以为每个通道保存测量数据，并且可以在以后统计设置和统计统计项目。

计量单位

测量单位是mm，μm，mil，MI。
可以随时更改设备，并自动转换测量值。

測定原理

当已经通过高频电流的探针（测量线圈）接近金属时，在金属表面层中产生涡电流。 该涡电流受到高频磁场的强度和频率，金属的导电性，厚度和形状的影响，并且穿透深度和尺寸变化。涡电流流动以抵消探头的高频磁场，因此探头的高频电阻发生变化。 这种高频电阻变化的幅度通常与薄膜厚度值不成比例，因此它会根据内部或用户创建的特性曲线（校准曲线）转换为薄膜厚度值并显示在PC屏幕上。显示量。