日本DENSOKU电测膜厚测试仪QNIx系列

日本DENSOKU电测膜厚测试仪QNIx系列

更容易测量麻烦的薄膜厚度
便携式薄膜厚度计，提高生产效率

 QNIx系列产品只需一个超轻便的紧凑型仪器和探头即可测量薄膜厚度，无需携带厚膜厚度计。
无线测量无电缆。 测量数据可以很容易地传输到个人计算机，并有助于防止测量期间坠落事故。

QNIx系列的特点
无需胶片校准即可精确测量薄膜厚度

提供出厂时输入的16点校准数据。这消除了对麻烦的胶片校准工作的需要并且能够进行精确的膜厚度测量。

薄膜厚度测量数据传输的新技术

传统的测量仪器通过将测量仪器和PC与电缆连接来传输测量数据。 QNIx系列使用“无线Dongle”，只需将其插入USB端口即可进行传输。可以快速轻松地查看测量数据。

超轻型无线测量仪器

探头测量的数据无线传输到主机。降低像常规产品一样被抓住或妨碍并导致事故的风险。此外，探头重30克，无需携带重型仪器。

探头难以断裂，不会在工件上留下痕迹

QNIx系列探头被增强塑料包围，耐用性提高了30％。即使它发生故障，也可以轻松拆卸和维修，缩短维修周期。此外，还附有红宝石芯片，可在不损坏样品（样品）的情况下进行安全测量。

便携式薄膜厚度计型号代码指导

[F]黑色金属材料的非磁性薄膜厚度测量

[N]对有色金属材料的非导电薄膜厚度测量

[FN]使用单个探针测量黑色和有色金属材料的薄膜厚度

[T]微探针

[M]测量数据存储功能，数据传输到PC