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日本napson紧凑易用手动非接触电阻测量仪-

产品名称: 日本napson紧凑易用手动非接触电阻测量仪-
产品型号: EC-80
产品特点: 日本napson紧凑易用手动非接触电阻测量仪-
一种简单的测量仪器,只需在探针之间插入样品即可进行测量
在电阻率/薄层电阻测量模式之间轻松切换
通过JOG拨盘轻松设置测量条件
*由于探头是固定的,因此可以在购买前从几种类型中选择一种。

日本napson紧凑易用手动非接触电阻测量仪- 的详细介绍

日本napson紧凑易用手动非接触电阻测量仪-

 

测量对象

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延离子与
半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*请联系热博rb88)

 

测量尺寸

〜8英寸,或〜156x156mm

 

测量范围

[电阻率] 1 m至200Ω·cm 
(*所有探头类型的总量程/ 500 um的厚度)
[抗热阻] 10 m至3 kΩ/ sq 
(*所有探头类型的总量程)

*每种探头类型的测量范围,请参见下文。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至0.05Ω-cm)
(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 )高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

带有手持式探头的手动无损(涡流法)电阻测量仪

产品名称:EC-80P(便携式)

产品图片(可根据客户要求进行各种定制)

  • 手动型(单点测量系统)
  • 手动型(单点测量系统)
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产品特点

  • 电阻可以通过简单地接触手持式探头来测量。
  • 在电阻率/薄层电阻测量模式之间轻松切换
  • 通过JOG拨盘轻松设置测量条件
  • 可更换的电阻测量探头,带连接器,适用于宽电阻范围
  • (电阻探头:多可以使用2 + PN判断探头)

 

测量规格

测量对象

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜相关(金属,ITO等)
硅基外延离子与
半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*请联系热博rb88)

测量尺寸

无论样品的大小和形状如何,都可以进行测量(但是,大于20mmφ且具有平坦的表面)

 

测量范围

[电阻率] 1m至200Ω·cm 
(*所有探头类型的总量程/当厚度为500um时)
[抗热阻] 10m至3kΩ / sq 
(*所有探头类型的总量程)

 

*每种探头类型的测量范围,请参见下文。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 )高:10-1000Ω/□(0.5-60Ω-cm)
(4)S-高:1000-3000Ω/□(60-200Ω-cm)
(5)太阳能晶片:5-500Ω /□(0。 2〜15Ω-cm)

 

传单

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非接触式(涡流法)电阻率/薄层电阻测量仪,可通过个人计算机轻松操作

产品名称:NC-10(NC-20)

产品图片(可根据客户要求进行各种定制)

  • 手动型(单点测量系统)
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产品特点

  • 通过PC节省空间,易于操作和数据处理
  • 非接触式涡流方法可实现无损测量
  • 由于探头是可拆卸和可更换的,因此您可以轻松地为每个范围的探头更换它。
  • (*第二和后续电阻探头可选)
  • 中心1点测量
  • 厚度/温度校正功能(硅晶片)

测量规格

测量对象

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
 新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
 导电薄膜相关(金属,ITO等)
 硅基外延离子与
 半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
 其他(*请联系热博rb88)

 

测量尺寸

3至8英寸,〜156 x 156毫米
(可选; 2英寸或12英寸,〜210 x 210毫米)

测量范围

[电阻率] 1m至200Ω·cm 
(*所有探头类型的总量程/当厚度为500um时)
[抗热阻] 10m至3kΩ / sq 
(*所有探头类型的总量程)

 

*每种探头类型的测量范围,请参见下文。
(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至0.05Ω-cm)
(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 )高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

 

DUORES手持式薄层电阻测量仪(2个探头更换用[接触型和无损测量探头])

产品名称:DUORES

产品图片(可根据客户要求进行各种定制)

  • 手动型(单点测量系统)
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产品特点

易于携带和测量的手持式薄层电阻测量装置:DUORES

可以根据测量目标交换和使用两种类型的探头(非破坏性/接触式)

•世界上地衣台可以更换和使用两种类型的探头(无损型,接触型)的便捷型薄层电阻测量仪 • 
只需放置/应用探头即可自动进行测量
•电池连续工作时间:24小时(*电池使用时)
•显示数据项数:多100(*显示醉心数据)

•保存的大数据数:50,000(*软件显示屏)
•测量数据传输功能:USB-Mini 
•显示:3个显示单位(Ω/□,S /□,n / m [金属膜厚度转换]), 4位浮点数(0.000至9999)

*仅出售身体+非破坏性探针,仅出售身体+接触探针。

测量规格

测量对象

薄膜,玻璃,纸材料等 
通常,可以在测量范围内测量任何样品。
•薄膜材料(ITO,TCO等)
•低电子玻璃
•碳纳米管,石墨烯材料
•金属材料(纳米线,网格,网格)
•其他

测量尺寸

无论尺寸和厚度如何,都可以进行
测量(*每个探头的测量点尺寸或更多)

<测量点>

・无损探棒(涡流型):φ25mm

・接触探针(4种探针):9mm

测量范围

・无损探棒(涡流方式):0.5 -200Ω/ sq 
・接触式探棒(4探针方式):0.1 -4000Ω/ sq

 

传单

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非接触型(脉冲电压激励法)超低电阻量程电阻测量系统

商品名称:PVE-80

产品图片(可根据客户要求进行各种定制)

  • 手动型(单点测量系统)
  • 手动型(单点测量系统)
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产品特点

  • 非接触式电阻测量系统,采用脉冲电压激励方法作为测量原理,可在不损坏样品的情况下进行测量

  • 节省空间的车身外壳,便携式可移动台

  • 通过PC(软件)轻松进行测量操作和数据存储/管理

  • 测量显示单元可以根据应用(薄层电阻,电导率,电导率)进行更改

    *本产品使用本公司与千叶大学共同开发的测量方法:脉冲电压激励法(篆隶号5386394)。

测量规格

测量对象

新材料/功能材料(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
导电薄膜(金属,ITO等)
复合半导体(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
其他(*联系热博rb88请给我)

测量尺寸

〜A4尺寸(W300 x D210mm)

测量范围

50μ〜1mΩ/平方

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