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日本napson非接触式薄层电阻多点测量仪

产品名称: 日本napson非接触式薄层电阻多点测量仪
产品型号: NC-80MAP
产品特点: 日本napson非接触式薄层电阻多点测量仪
使用多种类型的非接触式探头的电阻测量仪器,范围广泛
(要安装的探头数量和探头类型可根据要求更改)
从8 mm的边缘可以进行多点测量

日本napson非接触式薄层电阻多点测量仪 的详细介绍

日本napson非接触式薄层电阻多点测量仪

 

  • 由于它是一种非接触式涡流方法,因此可以进行测量而不会损坏它。
  • 可编程测量模式和2-D / 3-D映射软件
  • *选项:安装了额外的晶圆厚度测量探针

 

测量规格

测量目标

半导体/太阳能电池材料相关(硅,多晶硅,SiC等)
 新材料/功能材料相关(碳纳米管,DLC,石墨烯,银纳米线等)
 导电薄膜相关(金属,ITO等)
 硅基外延,离子与
 半导体相关的注入样品化合物(GaAs Epi,GaN Epi,InP,Ga等)
 其他(*请与热博rb88联系)

测量尺寸

2-8英寸
(可选; 12英寸)

测量范围

[电阻] 1m至200Ω・ cm 
(*所有探头类型的总量程/厚度500um)
[抗剪强度] 10m至3kΩ / sq 
(*所有探头类型的总量程)

*有关每种探头类型的测量范围,请参阅以下内容。

(1)低:0.01至0.5Ω/□(0.001至
0.05Ω- cm)(2)中:0.5至10Ω/□(0.05至0.5Ω-cm)
(3 ))高:10至1000Ω/□(0.5至60Ω-​​cm)
(4)S-高:1000至3000Ω/□(60至200Ω-cm)

映射图像

  • 半自动类型(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型(多点测量系统[包括软件+ PC])

与超高电阻范围兼容的非接触式(电晕放电法)薄层电阻测量系统

商品名称:CRN-100

产品图片(可根据客户要求进行各种定制)

  • 半自动类型(多点测量系统[包括软件+ PC])
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产品特点

  • 超高电阻范围:以非接触方式测量10E + 9至10E + 15Ω/□
  • 平面多点测量功能
  • 2D / 3D映射图像显示
  • Windows 7软件
  • 测量数据可以CSV文件格式输出
  • 由于是非接触型,因此可以不受接触电阻的影响进行测量。

测量规格

测量目标

*通常,可以测量本设备测量范围内的任何样品。请联系热博rb88。

・超高电阻薄膜样品(a-Si,IGZO等)

・半导体材料接近绝缘

・导电橡胶

这样

测量尺寸

尺寸:大300 x 400毫米

厚度:大2毫米

*热博rb88可以自定义您的要求,例如尺寸支持。请联系热博rb88。

测量范围

10E + 9〜10E + 15Ω/□

传单

*单击下面的按钮下载该产品的传单。

映射图像

  • 半自动类型(多点测量系统[包括软件+ PC])
  • 半自动类型(多点测量系统[包括软件+ PC])

产品信息

  • 接触电阻测量仪
  • 非接触电阻测量
    • 手动型(1点测量系统)
    • 半自动类型(多点测量系统[包括软件+ PC])
    • 全自动型(全自动测量系统)
    • 串联型(嵌入式测量模块)
  • 寿命测量
  • PN判断
  • 传播阻力
  • 4探头探头
  • 平面度/厚度测量
  • 电阻参考晶圆
  • 线性刻度
  • 膜厚测量系统(非接触式,光学式)
  • 技术介绍

    Napson电阻测量有两种类型:接触型和非接触型。热博rb88将介绍每种测量方法。

  • 海外网络

    介绍Napson的海外网络。热博rb88还为在海外工厂的交付和安装提供全面的支持。

  • 售后服务

    热博rb88加强了售后服务,因此即使在接触式交付后也可以稳定地使用热博rb88的产品。

 日本napson非接触式薄层电阻多点测量仪

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