产品资料
日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪
产品名称: 日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪
产品型号: Cresbox
产品特点: 日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪测量模式可编程和圆形/方形测量兼容的绘图软件自检功能，测量范围广厚度/周边位置/温度补偿功能（硅）薄层电阻/金属膜厚显示功能
日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪 的详细介绍
日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪
测量规格
测量目标
- 与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
- 导电薄膜相关（金属，ITO等）
- 扩散样品硅基外延离子注入样品
- 其他（*请与热博rb88联系）
测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
测量范围
[电阻（比电阻）] 1m至300kΩ·cm
[板电阻] 5m至10MΩ/ sq
测量规格
测量目标
- 与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
- 导电薄膜相关（金属，ITO等）
- 扩散样品硅基外延离子注入样品
- 其他（*请与热博rb88联系）
测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
测量范围
[电阻（比电阻）] 1m至300kΩ·cm
[板电阻] 5m至10MΩ/ sq
测量规格
测量目标
- 与半导体/太阳能电池相关的材料（硅，多晶硅，SiC等）
- 新材料/功能材料（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
- 导电薄膜相关（金属，ITO等）
- 扩散样品硅基外延离子注入样品
- 其他（*请与热博rb88联系）
测量尺寸
〜8英寸，或〜156x156mm
测量范围
[电阻（比电阻）] 1m至300kΩ·cm
[板电阻] 5m至10MΩ/ sq
日本napson半自动4探针薄层电阻测试仪
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