日本ae-mic超低电阻测试仪
测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)
测量范围 | 测量范围 | 解析度 | 实测电流 | 测量精度 |
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1毫欧 | 0.0000mΩ〜1.5000mΩ | 0.1微欧 | 3A | ±(0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega) ±3Digit [平均] ±4位数[SLOW] ±5digit [快] 内 |
10毫欧 | 0.000mΩ至15.000mΩ | 1微欧 | 1A | |
100毫欧 | 0.00mΩ至150.00mΩ | 10微欧 | ||
1Ω | 0.0000Ω〜1.5000Ω | 100微欧 | 100毫安 | |
10Ω | 0.000Ω至15.000Ω | 1毫欧 | ||
100Ω | 0.00Ω至150.00Ω | 10毫欧 | 10毫安 | |
1KΩ | 0.0000kΩ至1.5,000kΩ | 100毫欧 | 1毫安 | |
% | 0.1mΩ〜1kΩ/±50.00% | 0.01%[10nΩ] | 看上面 | 参考规格 |
测量端子开路电压 | 5V以下 |
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测量方式 | 4端子测量[可进行接触检查] |
采样时间 | [自由运行] 2至10次/秒 |
[外部启动]大约9毫秒-400毫秒。 | |
比较器设定范围 | 上限和下限均为[0至15000], %范围:低0至-50%,高0至+ 50% |
比较器判断结果显示 | [BIN1至BIN9]显示和蜂鸣器 |
控制信号 | 测量开始信号:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始 |
保持信号:断开,“ H” [DC12V]:自由运行,“ L” [0V]:保持 | |
判断结果信号[LO / GO(BIN1至BIN9)/ H1] :集电极开路输出max40V,100mA | |
接触错误[CONT-E]: 集电极开路输出大40V,100mA | |
测量结束信号[EOC]:集电极开路输出大40V,100mA | |
周边环境 | 温度:5℃〜+ 40℃湿度:85%以下 |
需要电源 | AC85V-265V,50-60HZ,约60VA |
外形尺寸 | 333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起) |
重量 | 约3kg |
选项 | ・ RS-232C | 这些选项中 只有 一个 可以内置。 |
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・ GP-IB | ||
・打印机输出(Centronics) | ||
・打印机电缆 | ||
・短接(零欧姆标准电阻) |
日本ae-mic超低电阻测试仪
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