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日本ae-mic超高电阻测试仪

产品名称: 日本ae-mic超高电阻测试仪
产品型号: AE-1644E
产品特点: 日本ae-mic超高电阻测试仪
适用于 安装10kΩ〜1TΩ芯片,Melf,轴向型
超高电阻机器分选机,激光和切割机
修整机

日本ae-mic超高电阻测试仪 的详细介绍

日本ae-mic超高电阻测试仪

 

  • 高速积分方法,噪声误差小(可以为每个范围设置积分时间)
  • 参考电阻值4位数字设置允许百分测量(±50.00%)
  • 可能的修整模式
  • 比较器判断结果可以是集电极开路输出,LED显示和蜂鸣器声音
  • 可以联系检查
  • RS-232C接口标准设备(GP-IB /中央电子输出是可选的)
  • 内置换档螺线管电源(可选)[DC12V(2A)/ 24V(1A)/脉冲输出(2A)]

测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)

测量范围测量范围测量精度
测量电压H测量电压L
100kΩ的5.00kΩ至150.00kΩ15伏±0.03%±1位数[读数的±0.1%±1位数]15伏±0.03%±1位数[读数的±0.1%±1位数]
1兆欧50.0kΩ〜1500.0kΩ
10兆欧0.500MΩ至15.000MΩ
100兆欧5.00MΩ至150.00MΩ100伏±0.05%±1位数[读数的±0.2%±1位数]15伏±0.3%±1位数[读数的±1.2%±1位数]
1GΩ50.0MkΩ至1500.0MΩ
10GΩ0.500GΩ至15.000GΩ100伏±0.2%±1位数[读数的±0.5%±1位数]15伏±1.2%±2位数[读数的±1.5%±1位数]
100GΩ5.00GΩ至150.00GΩ200伏±0.5%±2位数[读数的±0.8%±2位数]15伏±1.5%±2位数[读数的±2.0%±2位数]
1兆欧50.00GΩ〜1500.0GΩ200伏±0.1%±4位数字[读数的±1.5%±4位数字]无法选择
测量值显示范围测量值的%:±50.00%
OHM测量:500〜15000
测量方式恒压测量[可以通过2端子测量进行接触检查]
测量时间(将被测物体连接到测量端子后,经过足够的稳定时间后输入启动信号)
[外部启动整合时间]
[FAST] 1〜29毫秒(可以1毫秒为单位设置。
[SLOW] PLC50Hz:20.0毫秒×(1〜9)周期(可以1周期为单位设置)大180毫秒。
PLC60Hz:16.7毫秒×(1〜9)周期(可以1周期为单位设置)大150.3毫秒。
[自由运行]:大约3次/秒至20次/秒
比较器设定范围%测量:HI和LO均为±50.00%OHM测量:HI和LO均为500至15000
控制信号测量开始信号:以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]开始
保持信号:断开,“ H” [DC12V]:自由运行,“ L” [0V]:保持
判断结果信号:[LO / GO / HI],测量结束信号[EOC]集电极开路输出大40V 100mA
周边环境温度:5℃〜+ 40℃湿度:85%以下
需要电源AC85V-265V,50-60Hz,约20VA
外形尺寸333(W)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起)
重量约2.5公斤
标准支持CE标记
选项・ GP-IB这些选项中
只有一个可以内置。
・打印机输出
・换档/电磁电源
・打印机电缆

 日本ae-mic超高电阻测试仪

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